“日本AEMIC品牌 AE-162E数字电阻测试仪”参数说明
元器件种类: | 电子元件测试仪 | 型号: | Ae-162e |
规格: | 数字电阻测试仪 | 商标: | 日本aemic |
包装: | 原厂包装 | 产量: | 1000 |
“日本AEMIC品牌 AE-162E数字电阻测试仪”详细介绍
适合于贴片、金膜电阻的分选。可配分选机,自动测包机,涂装机等。可测试分选D,F,G,J,K,和M级精度电阻。
特点
■极小晶片对应(低电力测量)
■超高测试速度:0.7 mesc.[代表值]
■消除热电动势的影响测量,达到高精度高稳定性。
■每个范围的测量积分时间设定功能实现超高速及高稳定测量
■%测定:±99.99%【5mΩ~109MΩ】
■绝对值测量:0.00mΩ~200.00MΩ
■接触检查有三种模式选择:测量前/测量后/OFF(不接触)
■RS-232C 和 Centronics介面为标准配备[可选购GP-IB]
■印表机输出标准配备(centronics符合)
■设定值转送功能标准配备
(可把一台机的设定数据转送到另一台AE-162E上)
■内建测量检查电流和电压的电路是否异常的装置
选购
■GP-I B介面/短端子(零欧姆标准电阻器
■数据传送电缆
测试端子开路电压: 15 V 以下
测量结束信号(EOC)脉冲宽度: 1~250msec.和能连续设定
测量方式: 4端子/2端子测量转换
判断值设定范围: %测量:±99.99%绝对价值测量:0~20000
使用周围环境: 温度:0℃~+50℃湿度:80%以下
所要电源: AC 85V~265V,50~60Hz,约5 0VA
外形尺寸: 约333(W)×99(H)×300(D)m(不含有橡胶脚等的突起物。)
重量: 约3.5kg
特点
■极小晶片对应(低电力测量)
■超高测试速度:0.7 mesc.[代表值]
■消除热电动势的影响测量,达到高精度高稳定性。
■每个范围的测量积分时间设定功能实现超高速及高稳定测量
■%测定:±99.99%【5mΩ~109MΩ】
■绝对值测量:0.00mΩ~200.00MΩ
■接触检查有三种模式选择:测量前/测量后/OFF(不接触)
■RS-232C 和 Centronics介面为标准配备[可选购GP-IB]
■印表机输出标准配备(centronics符合)
■设定值转送功能标准配备
(可把一台机的设定数据转送到另一台AE-162E上)
■内建测量检查电流和电压的电路是否异常的装置
选购
■GP-I B介面/短端子(零欧姆标准电阻器
■数据传送电缆
测试端子开路电压: 15 V 以下
测量结束信号(EOC)脉冲宽度: 1~250msec.和能连续设定
测量方式: 4端子/2端子测量转换
判断值设定范围: %测量:±99.99%绝对价值测量:0~20000
使用周围环境: 温度:0℃~+50℃湿度:80%以下
所要电源: AC 85V~265V,50~60Hz,约5 0VA
外形尺寸: 约333(W)×99(H)×300(D)m(不含有橡胶脚等的突起物。)
重量: 约3.5kg