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“PHL膜厚测试仪/椭偏仪SE-101”参数说明
| 是否有现货： | 是 | 类别： | 白光干涉测厚仪 |
| 品牌： | phl | 测量产品： | 薄膜 |
| 显示方式： | 数字显示 |
“PHL膜厚测试仪/椭偏仪SE-101”详细介绍
膜厚测试仪
椭偏仪
应力双折射仪，能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。
日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。
根据应用不同，我们特别开发出5款不同的的膜厚测试仪/椭偏仪，每一款产品各具不同的特点。
PHL紧凑型桌面式椭偏仪 SE-101
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型号 |
SE-101 |
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重复性 |
厚度0.1nm,折射率0.001 |
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测量速度 |
0.05秒/测量点 |
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光源 |
636nm 半导体激光器 |
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测量点 |
1mm |
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入射角 |
70度 |
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测量尺寸 |
4英寸, |
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仪器尺寸和重量 |
250x175x218.3mm/4kg |
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数据接口 |
千兆以太网（摄像机信号），RS-232C |
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功率 |
AC100-240V（50/60Hz） |
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软件 |
SE-View |
凑型桌面式椭偏仪 SE-102
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型号 |
SE-102 |
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重复性 |
厚度0.1nm,折射率0.001 |
|
测量速度 |
0.05秒/测量点 |
|
光源 |
636nm 半导体激光器 |
|
测量点 |
1mm |
|
入射角 |
70度 |
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测量尺寸 |
4英寸,1轴自动，2轴手动 |
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仪器尺寸和重量 |
300x235x218.3mm/4kg |
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数据接口 |
千兆以太网（摄像机信号），RS-232C |
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功率 |
AC100-240V（50/60Hz） |
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软件 |
SE-View |
快速映射椭偏仪 ME-110
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型号 |
ME-110 |
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重复性 |
厚度0.1nm,折射率0.001 |
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测量速度 |
每分钟1000个点以上 |
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光源 |
636nm 半导体激光器 |
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测量点 |
0.5mm |
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入射角 |
70度 |
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测量尺寸 |
6英寸 |
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仪器尺寸和重量 |
650x650x1740mm/120kg |
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数据接口 |
千兆以太网（摄像机信号），RS-232C |
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功率 |
AC100-240V（50/60Hz） |
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软件 |
SE-View |
|
型号 |
ME-110 |
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重复性 |
厚度0.1nm,折射率0.001 |
|
测量速度 |
每分钟1000个点以上 |
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光源 |
636nm 半导体激光器 |
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测量点 |
0.0055-0.5mm |
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入射角 |
70度 |
|
测量尺寸 |
6英寸 |
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仪器尺寸和重量 |
650x650x1740mm/120kg |
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数据接口 |
千兆以太网（摄像机信号），RS-232C |
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功率 |
AC100-240V（50/60Hz） |
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软件 |
SE-View |
允许厚度分布的测量，例如，透明电极膜和取向膜与基底玻璃的透明基板
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型号 |
ME-110-T |
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重复性 |
厚度0.1nm,折射率0.001 |
|
测量速度 |
每分钟1000个点以上 |
|
光源 |
636nm 半导体激光器 |
|
测量点 |
0.5mm |
|
入射角 |
70度 |
|
测量尺寸 |
6英寸 |
|
仪器尺寸和重量 |
650x650x1740mm/120kg |
|
数据接口 |
千兆以太网（摄像机信号），RS-232C |
|
功率 |
AC100-240V（50/60Hz） |
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软件 |
SE-View |
高速，高解析度的表面分布测量
